|
葉輪的高效檢測方案面臨的挑戰(zhàn)：來自�？怂箍档慕鉀Q方案：葉輪所有形面和流道及其他檢測參數(shù)，都需要轉臺和掃描結合完成，檢測優(yōu)勢如下： —高速四軸掃描 —返回式掃描 —先進的空間半徑補償 葉輪所有形面和流道及其他檢測參數(shù)，檢測優(yōu)勢如下： —葉形輪廓和厚度 —內、外流道 —前緣輪廓誤差 —特殊的空間P點圓坐標系 葉輪檢測參數(shù)：
•HP-O 技術 使用干涉法測量距離. •優(yōu)勢: •對環(huán)境光沒有限制 •敏感表面無需噴涂 •CMM的標準環(huán)境條件適用于HP-O •高重復性(0,2μm(3σ)) •盡可能接近接觸式測量模式(操作、校準) •無接觸測量過程 •不會劃傷及損壞工件表面 •可測量敏感表面 •光滑表面: 適合受力易變形工件的測量 (例如：葉盤，葉片) |
