自動(dòng)組件識(shí)別（Automatic Component Recognition ACR）技術(shù)，使您方便的使用顯微鏡設(shè)置。所有電動(dòng)主機(jī)架能夠自動(dòng)識(shí)別物鏡。此外，ACR 技術(shù)還能在全電動(dòng) Z 系列主機(jī)中識(shí)別反射光模塊。系統(tǒng)能自動(dòng)對組件的變換進(jìn)行登記。

借助 Axio Imager 出色的穩(wěn)定性得以實(shí)現(xiàn)可隨時(shí)間變化的測量和高放大倍率觀察。物鏡轉(zhuǎn)盤、z 軸升降臺(tái)和載物臺(tái)被設(shè)計(jì)為一個(gè)緊湊式無振動(dòng)單元，獨(dú)立于主機(jī)架的其余部分。這種所謂的 "stable cell" 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)能夠創(chuàng)建理想的測量條件，以獲得超高質(zhì)量的觀測結(jié)果。

• 簡化復(fù)雜程序。通過主機(jī)架或外置工作站上的觸摸屏來控制全部電動(dòng)化組件。

• 保存?zhèn)�性化設(shè)置并實(shí)現(xiàn)一鍵還原。聚焦操作方便直觀 – 符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì)的觸控式按鈕。

• 或者通過任意擺放的控制面板（可完全與主機(jī)架分離）來操作偏光顯微系統(tǒng)。觀察方式和光路管理器能夠自動(dòng)選擇合適的設(shè)置，以生成可重現(xiàn)且可靠的觀測結(jié)果。

  錐光觀察技術(shù)：使用偏光顯微鏡可以實(shí)現(xiàn)快速可靠的晶體結(jié)構(gòu)分析

  偏光顯微鏡能夠同時(shí)采集無畸變的和錐光的圖像信息。采用特殊設(shè)計(jì)的偏光鏡筒通過輔助中間像平面可以使物體、十字準(zhǔn)線和可變光闌同時(shí)可見。通過調(diào)節(jié)型可變光闌能夠?qū)㈠F光觀測范圍縮小至最小 10μm 的晶體粒度。已對中的 Bertrand 光路方便開關(guān)。這一特性讓您在不同技術(shù)之間進(jìn)行快速切換 – 甚至在采集圖像或使用視頻設(shè)備時(shí)。

  始終如一的測量性能

  大量光譜補(bǔ)償器可選，涵蓋從 0 至 30 λ 的測量范圍。

  固定光程差的補(bǔ)償器

  具有可變光程差的補(bǔ)償器

  Axio Imager 還可提供更多方法，例如：

• 熱顯微技術(shù)
  

• 使用蔡司 AxioVision 軟件進(jìn)行數(shù)字分析（例如：晶粒度分析或顆粒度分析）

• 光楔補(bǔ)償器 0-4 λ

• 測量補(bǔ)償器
  - Berek 傾斜補(bǔ)償器 0-5 λ
  - Berek 傾斜補(bǔ)償器 0-30 λ
  

• 全波片 λ

• 四分之一波片 λ / 4

• 全波片 λ，可旋轉(zhuǎn)角度 +/- 8°

• 借助可 360° 刻度和 0.1° 的游標(biāo)尺的旋轉(zhuǎn)、球軸安裝式載物臺(tái)可以輕松實(shí)現(xiàn)測量，（例如：用于測量礦物的解理角）

• 光程差測定或應(yīng)變測量