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臺式掃描電子顯微鏡 TM4000II/TM4000PlusII可在低真空的條件下進行二次電子像（表面形狀）觀察。無需預處理，也可以觀察絕緣物和含水、含油樣品的表面不僅是觀察傳統(tǒng)的導電性樣品，還可以在無預處理的條件下觀察絕緣物和含水、含油樣品�？煽焖龠M行二次電子像與背散射電子像之間的切換。 
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商品說明
觀察圖像3分鐘�？裳杆佾@得所需數(shù)據(jù)，并制作報告。 觀察與分析的靈活性自動獲取各類數(shù)據(jù)�？焖偾袚Q！  可快速獲得元素分布圖 *2  *1TM4000PlusⅡ的功能。 *2選配 使用Camera Navi*的話，就是如此簡單Camera Navi圖像讓您輕松找到視野，分布圖(MAP)功能全程支持您的觀察  *選配：Camera Navi系統(tǒng) 操作簡單且快捷觀察圖像只需 3 分鐘。 Report Creator可讓您輕松制作報告只需選擇圖像和模板，就可以制作Microsoft Word、Excel、PowerPoint格式的報告  即便是絕緣物樣品，也無需預處理，就可直接進行觀察。“荷電減輕模式”可抑制荷電現(xiàn)象對于容易產(chǎn)生荷電的樣品，可使用“荷電減輕模式”，在抑制荷電的狀態(tài)下進行觀察。  可在低真空的條件下進行多種觀察對于容易產(chǎn)生荷電的粉末或含水等樣品，可結(jié)合其目的進行觀察。  可在低真空的條件下進行二次電子像（表面形狀）觀察。無需預處理，也可以觀察絕緣物和含水、含油樣品的表面不僅是觀察傳統(tǒng)的導電性樣品，還可以在無預處理的條件下觀察絕緣物和含水、含油樣品�？煽焖龠M行二次電子像與背散射電子像之間的切換。 高感度低真空二次電子檢測器采用高感度低真空二次電子檢測器(UVD)。通過檢測由于電子線與殘留氣體分子之間的碰撞而產(chǎn)生的光，可以觀察帶有二次電子信息的圖像。此外，通過控制該檢測器，來檢測電子照射所產(chǎn)生的光，可以獲得CL信息（UVD-CL：帶有CL信息的圖像）。  可支持加速電壓20 kVTM4000Ⅱ/TM4000Plus II可支持加速電壓20 kV。 通過加速電壓20 kV，實現(xiàn)EDS元素分布圖的高S/N化 Multi Zigzag（選配）可實現(xiàn)在廣域范圍內(nèi)進行SEM觀察。  非常簡單的 EDX 分析面分析譜峰分析線分析EM 樣品臺（選配）可輕松觀察 STEM 圖像與全新開發(fā)的 STEM 樣品臺和高靈敏度低真空二次電子檢測器(UVD)配合使用，可輕松觀察小倍率 STEM 圖像。  *UVD為 TM4000Plus II上的配件。   加速電壓：20 kV 觀察信號：(a) STEM 圖像, (b) 背散射電子像 放大倍率：10000 倍   加速電壓：15 kV 觀察信號： STEM 圖像 放大倍率：1000倍  加速電壓：15 kV 觀察信號： STEM 圖像 倍率：5000倍 應用實例展示請參閱各個領(lǐng)域的觀察實例。 規(guī)格
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